深圳市冠标电子技术有限公司
冠标科技官网 | 专注传感测试测量解决方案21年
搜索
搜索

技术专栏

全部分类
/
/
/
光应力分析—LF/Z-2型反射式偏光应力分析系统

光应力分析—LF/Z-2型反射式偏光应力分析系统

  • 分类:专业术语
  • 作者:
  • 来源:
  • 发布时间:2016-10-10 00:00
  • 访问量:11

【概要描述】

光应力分析—LF/Z-2型反射式偏光应力分析系统

【概要描述】

  • 分类:专业术语
  • 作者:
  • 来源:
  • 发布时间:2016-10-10 00:00
  • 访问量:11
详情

什么是光应力分析?

全域应力和应变分析方法

可用于负载变化的情况

适合于残余应力分析,装配应力检测和疲劳测试

可应用于各种不同的材料(金属、复合材料、混凝土以及更多材料)

易于使用和分析结果

关于光应力

PhotoStress®分析系统由一台反射偏光器和一套PSCalc®计算机软件组成,用户可以存储并处理LF/Z-2读出的应力和应变数据

多样的光应力涂层可用于大范围的材料,以及简单活复杂的形状

PhotoStress®分析系统—主要优势和解决方案:

迅速确定应力集中区和零应力区

定量测量在结构上任一点的应力好应变

验证所有有限元分析(FEA)

减少负载优化

分析,包括:

由构造误差引起的应力

装配过程中产生的应力

加工过程中的残余应力例如铸造和焊接

简单或复杂的应力状况

扫二维码用手机看

感谢您对冠标科技的关注与支持

您可以扫描二维码关注微信公众号了解实时动态,或点击以下按钮在线留言?

深圳市冠标电子技术有限公司

Copyright©2019 冠标科技有限公司 版权所有  粤ICP备05058525号   网站建设:中企动力 深圳

分享到:
深圳市冠标电子技术有限公司
深圳市冠标电子技术有限公司
深圳市冠标电子技术有限公司

TEST