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冠标科技成功参展2010汽车测试及质量监控博览会
  • 分类:公司新闻
  • 作者:冠标科技
  • 来源:https://www.gp-tm.com/
  • 发布时间:2026-01-14
  • 访问量:1

 

2010汽车测试及质量监控博览会(中国)——德国著名Automotive Testing Expo的姐妹展,于2010年9月14—16日在北京农业展览馆顺利召开。从2006年测试博览会进入中国以来,今年是第一次在北京召开,吸引了众多行业客户前来参观。同往年一样,冠标科技继续与Meggitt(下属Endevco、Sensorex、Wilcoxon子品牌)合作,参与此专业展会,同客户探讨:

汽车碰撞试验(加速度计)、NVH测试(加速度计、传声器)、气囊压力测试(压力传感器)、管路压力、ABS压力测试(压力传感器)、道路试验(加速度传感器)、耐久试验(应变计、应变仪)等方面的先进技术。

G&P作为Endevco在中国区唯一指定及技术服务中心,在测试测量行业为汽车领域用户提供了最先进的产品及行业技术。其展台也受到了业内人士的极大关注,接待了来自各大整车厂、知名的零部件供应商、测试系统集成商等的参观客户500人以上。我们不仅为客户准备了丰富的产品资料、产品外观样品展示等。

通过本次展会,冠标科技携手Meggitt公司成功展出了汽车测试用相关传感器及放大器,得到客户的极大认可。同时,冠标科技(G&P)也希望在以后的工作中,服务于更多的国内汽车客户,为中国的汽车测试技术的快速发展做出更大的贡献!

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