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Micro-Measurments 2017应变测试技术研讨会 上海专场 成功举办
  • 分类:市场动态
  • 作者:冠标科技
  • 来源:https://www.gp-tm.com/
  • 发布时间:2026-01-14
  • 访问量:0

2017年6月20日,“Micro-Measurments 2017应变测试技术研讨会  上海专场”在上海成功举办。本次会议由冠标科技有限公司主办。

会议现场

来自美国MM总部的全球市场高级经理 Kevin Swiger 先生,亚太区应用技术经理徐中原先生详细介绍了应变片选型指南,现场进行贴片演示,分享了先进的汽车行业案例,与到场嘉宾进行了技术问题交流。

 

Kevin Swiger 先生介绍应用案例

 

徐中原先生介绍应用案例

通过理论讲解和现场样品展示,直观地向嘉宾们演示了MM应变测试产品,现场气氛活跃,反响热烈。

现场进行贴片演示

 

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